X-Strata 920
Analizadores de materiales y espesores de recubrimiento Microspot XRF para un rápido control de calidad y pruebas de validación. Esto facilita obtener los resultados correctos en segundos.
El análisis de espesor y materiales de revestimiento basado en fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria. Esta ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo. Además, requiere poca o ninguna preparación de muestra. Por otro lado, es capaz de analizar sólidos o líquidos en un amplio rango de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica.
Este producto ha sido asignado por el expositor a la categoría:
METROLOGIA Y CONTROL DE CALIDAD / CONTROL DE CALIDAD, SOFTWARE / CONTROL DE CALIDAD, SOFTWARE
Este producto es presentado por el expositor: HITACHI HIGH-TECH ANALYTICAL SCIENCE
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